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膜厚仪的测量原理是什么?

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岱美仪器技术服务2023-12-27

膜厚仪的测量原理主要有两种:一种是光学测量原理,另一种是电磁感应测量原理。光学测量原理是利用光的干涉、反射、透射等现象来测量薄膜厚度。电磁感应测量原理是利用电磁感应的原理来测量薄膜厚度。这两种原理都有各自的优点,选择哪种原理取决于具体的应用场景和需求。我们岱美本着诚信、快速、专业的原则,竭诚为广大客户提供满意的产品,欢迎广大客户前来咨询!

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简介:岱美仪器,专注于半导体行业40多年,可提供欧美先进设备,拥有雄厚的技术积累,以及专业的技术服务团队。
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