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    ZnO是一种重要的II-VI族半导体材料。它拥有高达60meV的激子结合能，以及25meV的热***能。ZnO纳米线可以被用于制造导波管，纳米激光器，光探测器，以及发光二极管。在这些光学应用中，激子与纵向光学声子（LO）之间的耦合特性一直是研究者们讨论的重点。这种耦合特性往往与晶格结构以及应力产生的缺陷有关。结合原位透射电子显微镜光学-光电测量系统（ZepToolsTechnologyCo.,Ltd.），研究者在TEM中原位测量施加了不同应力ZnO纳米线的阴极发光谱（CL），揭示了该材料结构特性与这种耦合特性之间的联系。相关研究成果发表在《APPLIEDPHYSICSLETTERS》上。图1：(a)原位透射电子显微镜光学-光电测量系统应用原理图；(b)单根ZnO纳米线的TEM图像，电子束被聚焦在纳米线的末端。(c)图解ZnO纳米线的发光机制；(d)典型的CL谱。ZnO纳米线被安置于原位TEM光学-光电测量样品杆上，一个2mm直径的光纤通过一个可以三维操纵的纳米操纵探针引到样品处。纳米操纵探针不仅可以辅助找准测试位置，还可以用于选择和操纵单根纳米线。单色仪和CCD与光纤接口连接并用于接收信号。图2：改变电子束聚焦在纳米线上的位置，可以得到不同的CL谱。图3：使用纳米操纵探针给纳米线施加不同的应力。徐州销售HOMMEL霍梅尔光学机市场价HOMMEL霍梅尔光学机苏州雅顿供应.

    ETAMICW20粗糙度仪产品介绍Hommel-EtamicW20无导头型探测系统专为执行移动式粗糙度测量而设计。它不仅测量所有常见的粗糙度参数，而且评估工件表面的波度和总轮廓。该测量仪特别紧凑，便于携带。内置电池，因此即使在没有外部电源时也能使用。测量探头会自动定位在工件表面上。机动化的探头降低功能可简化操作-您只需定位扫描单元，然后开始测量。在完成测量时，探臂会自动从工件抬起。这可以防止探针被损坏。宽大的彩色触摸屏非常清晰，且易于操作。借助集成的打印机，您可以立即以图形形式显示测量结果。可以显示参数、轮廓图形、Abbott曲线和统计数据。该测量仪提供了七个测量程序，以及使用集成的粗糙度标准来测试测量仪的选项。产品特点操作简单、舒适8测量程序带4种基本功能的功能任务栏评估所有常见粗糙度特性参数公差评估的可能性广通过触摸屏快速和舒适得输入数据结果显示：特性参数、轮廓线、交互式材料支撑率曲线、***的统计功能精细且灵活内置启动键的进给设备wavelineTM20对小型工件进行仰测，测量稳定性佳可测量所有位置(还可仰测)配置了高精密导轨。

    10月17日至10月18日，韩国塑性技术学会研讨会（简称KSTP）在韩国济州岛KAL酒店举办。新拓三维受邀参加本次研讨会，新拓三维在现场展示了拥有自主知识产权的**产品——XTDIC三维全场应变测量分析系统，受到了与会**、学者的关注与好评。以技术创新**风潮，新拓三维出席韩国KSTP据悉，韩国塑性技术学会研讨会举办的主要目的是为了促进韩国院校和研究所之间的合作，分享**近的技术创新和研究进展，并为从事塑性材料基础技术和应用研究的人员提供平台，实现充分的交流与积极互动。会议不仅关注塑性材料技术的发展与应用，同时也关注其它塑性材料测量技术和应用，尤其是三维光学测量技术在材料性能测试中发挥的重要作用。新拓三维韩国代理商JayPark先生出席了本次研讨会，会议中JayPark先生就先进光学测量技术在材料和结构研究方面的应用跟大家进行了沟通与分享，同时在研讨会现场展示了XTDIC三维全场应变测量分析系统，以及分享了该系统在实验室的材料测试中的应用。深耕光学测量技术，解决塑性材料变形测量难题随着计算机图像处理技术的飞速发展，对材料和结构三维信息的提取在工业生产、汽车制造、土木建筑等领域中显得尤为重要。结合光、电、计算机等技术的优点。HOMMEL霍梅尔光学机，到苏州雅顿机电试验室内设有多款测量设备，检测准确快捷，满足您的测量.

    使用我们的研究小组开发的HTM和偏斜射线追踪方法建立了所提出的测量系统的数学模型[31-35]。有关数学模型的详细信息，请参见第。图2.光路（a）在X轴和Y轴上有径向运动误差，（b）在X轴周围运动有倾斜误差，并且（c）有轴向运动误差。3.拟议的测量系统的数值模拟和数学模型通过光学仿真软件Zemax对拟议的测量系统进行了仿真，以观察将6个自由度几何误差分别耦合至拟议的测量系统时的情况。图3显示了所提出的测量系统的3D光学模型。图4描绘了三个PSD上光斑位置的变化，其中不同的几何误差包括X方向上的径向运动误差（𝛿X），Y方向上的径向运动误差（𝛿Y），绕X轴的倾斜运动误差（ɛX），绕Y轴的倾斜运动误差（ɛY），轴向运动误差（𝛿Z）和角度定位误差（ɛZ）。这些仿真结果表明了采用该系统的可行性。也可以通过输入我们构建的数学模型来计算光斑的位置变化，从而由于建议的测量系统的特定灵敏度而减少了操作时间。图3.拟议的测量系统的3D光学模型。图4.具有不同几何误差的三个PSD上光斑位置的变化。另一方面，所提出的测量系统的数学模型是使用HTM和偏光**方法建立的[31-35]。利用偏光线**方法的平坦边界表面和球形边界表面的算法，变换矩阵RAi表示参考。HOMMEL霍梅尔光学机苏州雅顿机电科技有限公司华东代理.徐州销售HOMMEL霍梅尔光学机市场价

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    （c）Z轴上的轴向运动误差，（d）X轴的倾斜运动误差，（e）绕Y轴的倾斜运动误差，（f）角度定位误差。4.原型模型的实验表征如图所示。参照图7和8，通过实验室建造的原型证明了所提出的测量系统的有效性。所提出的测量系统的原型用于在工厂中同时测量五轴机床（NXV560A，YCM，中国台湾台中）的旋转轴（C轴）的6个自由度几何误差。实验是在温度受控的实验室中进行的，以减少环境误差，并且每次测量均向机床的旋转轴输入30°间隔的角位置指令。为了验证所建议的测量系统的可行性，使用了两个千分表（Mitutoyo：513–471–10E，分辨率为1μm），它们使用的是ISO230–7的测量方法，并且使用了精密的圆柱度表来测量几何尺寸。简单的三角方法得出旋转轴的误差。图9显示了包括两个千分表的验证系统。如图所示，L0表示精密圆筒形量规的底部和下部千分表之间的距离；L1是两个百分表之间的距离。当旋转轴产生角度误差（ɛ）和平移误差（𝛿）时，这两个百分表的读数值将发生变化。图10显示了验证系统的设置。图7.（a）实验室建造的原型的移动部分和（b）固定部分。图8.提出原型并测量五轴机床。图9.验证系统示意图。图10.验证系统的照片。图11显示了一系列的测量结果。盐城进口HOMMEL霍梅尔光学机价格

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